文章目录

  • 一、JTAG/SWD调试原理
  • 1.1 调试原理简析
  • 二、在实验中讲解调试方法
  • 2.1 调试之前的配置
  • 2.2 调试

一、JTAG/SWD调试原理

1.1 调试原理简析

STM32F4xx的内核是CortexTM-M4F,该内核包含用于高级调试功能的硬件。利用这些调试功能,可以在取指(指令断点)或取访问数据(数据断点)时停止内核。内核停止时,可以,查询内核的内部状态和系统的外部状态。查询完成后,将恢复内核和系统并恢复程序执行。当调试器与STM32F4xx MCU相连并进行调试时,将使用内核的硬件调试模块。
提供两个调试接口:

  • 串行接口
  • JTAG调试接口

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引脚情况

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引脚调用,如果是都没有,5个引脚都会被释放,如果是SW只有2个引脚被占用

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端口复用映射

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二、在实验中讲解调试方法

2.1 调试之前的配置

几个步骤,我就直接截图了

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2.2 调试

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点击Peripherals,即外设

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就可以看到每一个寄存器的位,也可以去设置值

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查看某个变量的值

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多练,多实际操作