android存储老化失败

　　电子元器件老化是指电子元器件在使用过程中，由于环境温度、湿度、电压、电流、紫外线等因素的影响，使元器件的性能发生变化，从而影响元器件的使用寿命。电子元器件老化的主要表现有：电容器的容量变小，电阻的阻值变大，二极管的电流变小，晶体管的电流变小，发射管的电流变小，电感的电感值变小，电容器的损耗变大，电阻的损耗变大，二极管的损耗变大，晶体管的损耗变大，发射管的损耗变大，电感的损耗变大等。电子元器件老化会对电子设备的性能产生不利影响，因此，应采取有效措施，降低电子元器件老化的影响，以保证电子设备的正常使用。

　　提到“老化”，你是否会联想到

　　老化的皮肤？生锈的铁？树木老化？

　　那你还知道我们日常生活使用的电子产品也会出现老化现象，在电子产品在加工过程中，由于经历了复杂的加工和元器件物料的大量使用，无论是加工缺陷还是元器件缺陷，都可分为明显缺陷和潜在缺陷，明显缺陷指那些导致产品不能正常工作的缺陷，例如短路 / 断路。而潜在缺陷导致产品暂时可以使用，但在使用中缺陷会很快暴露出来，产品不能正常工作。潜在缺陷则无法用常规检验手段发现，而是运用老化的方法来剔除。如果老化方法效果不好，则未被剔除的潜在缺陷将最终在产品运行期间以早期失效（或故障）的形式表现出来，从而就会导致产品返修率上升，维修成本增加。

　　因此针对电子元器件的老化问题，它的检测就必不可少。

　　纳米软件研发的 NSAT-2000电子元器件自动测试系统
主要对电子系统的某些关键器件、设备及芯片，在加速寿命退化后，对代表其性能退化的电参量进行测试。同时还适用于二极管、三极管、绝缘栅型场效应管等元器件的穿透电流、最大整流电流、正向压降等参数的测试，获取测试数据时，用户可以根据数据更直观的了解到产品的质量与可靠性。