摘要：对于【嵌入式系统设计师】软考考试而言，试题无疑是最重要的学习资料之一。在软考备考过程中，吃透试题、掌握试题所考知识点、熟悉试题的出题思路，对我们提升分数的效果是最明显的，通过对试题的反复练习，还可以查漏补缺。今天，给大家带来【嵌入式系统开发与维护】部分试题的详解，一起来看看吧~



1、模块A、B和C都包含相同的5个语句，这些语句之间没有联系。为了避免重复，把这5个语句抽取出来组成一个模块D，则模块D的内聚类型为______内聚。
A、 功能
B、 通信
C、 逻辑
D、 巧合

答案:D
答题解析:

本题考查软件设计的相关知识。

模块独立性是创建良好设计的一个重要原则，一般采用模块间的耦合和模块的内聚两个准则来进行度量。内聚是指模块内部各元素之间联系的紧密程度，内聚度越高，则模块的独立性越好。内聚性一般有以下几种：

①巧合内聚，指一个模块内的个个处理元素之间没有任何联系。

②逻辑内聚，指模块内执行几个逻辑上相似的功能，通过参数确定该模块完成哪一个功能。

③时间内聚，把需要同时执行的动作组合在一起形成的模块。

④通信内聚，指模块内所有处理元素都在同一个数据结构上操作，或者指各处理使用相同的输入数据或者产生相同的输出数据。

⑤顺序内聚，指一个模块中各个处理元素都密切相关于同一功能且必须顺序执行，前一个功能元素的输出就是下一个功能元素的输入。

⑥功能内聚，是最强的内聚，指模块内所有元素共同完成一个功能，缺一不可。



2、某个项目在开发时采用了不成熟的前沿技术，由此而带来的风险属于______风险。
A、 市场
B、 技术
C、 经济
D、 商业

答案:B
答题解析:

本题考查软件开发风险的基本概念。

风险是一种具有负面后果的、人们不希望发生的事件。从不同的角度可以对风险进行不同的分类。如从风险涉及的范围，风险可以分为项目风险、技术风险和商业风险等。技术风险涉及设计方案、实现、接口、验证以及维护等方面的问题。此外，包括需求规格说明的不确定性、技术的不确定性、技术的陈旧以及采用不成熟的前沿技术等可能会带来技术风险。技术风险威胁着开发产品的质量和交付产品的时间。



3、下图是一个软件项目的活动图，其中顶点表示项目里程碑，连接顶点的边表示活动，边的权重表示活动的持续时间，则里程碑（请作答此空）在关键路径上。活动GH的松弛时间是______。
A、 B
B、 E
C、 C
D、 K

答案:A
答题解析:

本题考查活动图的基础知识。

根据关键路径法，计算出关键路径为A—B—D—I—J—L，其长度为20。因此里程碑B在关键路径上，而里程碑E、C和K不在关键路径上。包含活动GH的最长路径是A—E—G—H—K—L，长度为17，因此该活动的松弛时间为20-17=3。



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