掠入射X射线散射（GIXS）包括广角散射GIWAXS和小角度散射GISAXS，是基于同步辐射光源的X射线散射技术，用于表征表面或薄膜中的纳米级密度相关性、纳米物体的形状、以及晶格中的原子和分子距离，被广泛的应用于研究有机太阳能电池和钙钛矿太阳能电池的形貌特征，晶体结构等。
比如在OPV材料结构研究中，GIWAXS被用来探测分子尺度、结构信息，常用于研究有机给体和受体材料在活性层中的分子堆叠，如结晶度、晶格常数和取向性。GISAXS可以看作是传统小角散射和全反射测量的结合，能够获得表面、薄膜、覆盖层中的纳米结构（如纳米颗粒、量子点等）的尺寸分布、形状以及排列分布的相关信息。
测试效果不好是什么原因导致？
散射信号会包含基底的信息，如不能完全扣除背底信号，就会导致无效信号干扰样品信号，同时以下情况也是原因之一
1. 制样不均匀，光斑打在了不合适位置；
2. 样品表面不平整，影响信号；
3. 掠入射角度选择不适宜；
4. 线站测试问题，如光束线不稳等。
同步辐射散射测试的样品要求：
1.样品测试请提供空白基底样，要求在空白基底上沉积与器件制备工艺一致的传输层且测试收费；
2.基底多为单晶硅，可提供，若自行准备尺寸不可超过2.5*2.5cm，1*1cm最好，默认样品不回收；
3.测试前请明确测试条件，如q值范围、掠入射角度范围、曝光时间等；
4.如对数据格式、数据处理有疑问，请先浏览数据说明；
5.请根据材料的耐氧、耐湿等性质，妥善封装样品；
